“分析测试技术论坛”—第4讲:透射电镜应用技术——透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术

讲座名称: “分析测试技术论坛”—第4讲:透射电镜应用技术——透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术
讲座时间 2018-05-09
讲座地点 分析测试共享中心一楼北109培训教室
讲座人 李超
讲座内容

讲座名称:透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术
讲座时间:2018年5月9日(星期三)14:30
讲座地点:分析测试共享中心一楼北109培训教室
讲座人:李超
讲座内容:
报告简要介绍透射电子显微镜的透射、衍射、扫描透射等多种模式的工作原理,通过具体案例介绍这些模式的主要应用。重点讲解利用透射电子显微镜所获取图谱结果的处理与分析方法,进一步深化透射电子显微术在陶瓷、单晶、薄膜、合金、纳米颗粒等不同类型材料微观结构和成分分布研究方向的重要应用。

讲座人介绍

工学博士,西安交通大学分析测试共享中心工程师。主要负责多型高分辨透射电子显微镜的使用、维护以及新功能的开发。李超工程师的专业特长是扫描透射电子显微术的应用与研究,尤其擅长结合环形暗场像、电子能量损失谱以及几何相位分析等对材料进行原子尺度的微观结构和成分分布研究。曾获由美国微分析协会(Microanalysis Society, MAS)颁发的研究生学术奖(Presidential Scholar award),这也是西安交大学生第一次获此荣誉。

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