“分析测试技术论坛”—第4讲：透射电镜应用技术——透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术
讲座名称：
“分析测试技术论坛”—第4讲：透射电镜应用技术——透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术
讲座时间：
2018-05-09
讲座人：
李超
形式：
校区：
兴庆校区
实践学分：
讲座内容：
讲座名称：透射电子显微镜的成像模式及图谱处理技术
讲座时间：2018年5月9日（星期三）14:30
讲座地点：分析测试共享中心一楼北109培训教室
讲座人：李超
讲座内容：
报告简要介绍透射电子显微镜的透射、衍射、扫描透射等多种模式的工作原理，通过具体案例介绍这些模式的主要应用。重点讲解利用透射电子显微镜所获取图谱结果的处理与分析方法，进一步深化透射电子显微术在陶瓷、单晶、薄膜、合金、纳米颗粒等不同类型材料微观结构和成分分布研究方向的重要应用。
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