基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制
讲座名称：
基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制
讲座时间：
2017-11-24
讲座人：
王凯波
形式：
校区：
兴庆校区
实践学分：
讲座内容：
讲座题目：基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制
讲座时间：2017.11.24（周五） 15:00
讲座地点：管院313
讲座人：王凯波（清华大学教授、工业工程系副系主任）
讲座内容：在一些复杂制造系统中，产品质量是基于高维度的空间数据所表述的。这些空间数据具有特定的结构，并能够传递重要的质量波动信息。因此，基于此类数据的过程建模与质量改进是一个重要的研究题目。本研究基于半导体硅片制造和纳米制造的例子，展示如何将统计方法与工程知识相结合进行质量控制。在半导体硅片的质量分析中，我们提出了一个三阶段层次模型；模型有效的刻画了硅片的宏观和微观波动信息，从而为质量分析和改善提供指导。在纳米制造的例子中，我们用空间模型分析质量的变化，从而发现了特定的波动模式。这里例子和研究表明，基于工程知识和数据驱动的统计建模和质量分析，具有良好的解决实际工程问题的能力。
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