基于慢电子成像的高分辨负离子光电子能谱学
讲座名称：
基于慢电子成像的高分辨负离子光电子能谱学
讲座时间：
2015-05-21
讲座人：
宁传刚
形式：
校区：
兴庆校区
实践学分：
讲座内容：
报告题目：基于慢电子成像的高分辨负离子光电子能谱学
报告时间：2015年5月21日下午3:00－4:20
报告地点：中1楼3113
报 告 人：宁传刚 清华大学物理系教授
内容摘要：
光电子能谱学是研究物质电子结构的非常重要工具，目前光电子能谱已经广泛应用于气相原子分子、凝聚态、表面等多个领域。本报告将简单回顾光电子能谱的发展历史，重点介绍最近发展起来的慢电子速度成像技术[1]。利用慢电子成像技术，我们目前正在测量过渡族元素的电子亲和势，将可以把现有的测量精度提高两个量级以上，精度达到0.1厘米波数。对负离子能级的精密测量，还可以为实现负离子的激光冷却寻找合适的靶离子[2]。结合离子阱的囚禁冷却负离子，通过质谱选择负离子团簇的大小，可以对团簇、自由基的电子亲和势和振动频率实现高精度测量 [3-5]。
[1]D. M. Neumark, J. Phys. Chem. A 112, 13287 (2008).
[2]C.W. Walter etal, PRL 113, 063001 (2014).
[3]Liu & Ning etal Angew. Chem. 125, 9146 (2013).
[4]Liu & Ning, etal Angew. Chem. Int. Ed. 126,2496(2014).
[5]Liu etal J.Phys. Chem. Lett.6,637(2015).
相关视频