“分析测试技术论坛”—第10讲:X射线衍射的残余应力分析

讲座名称: “分析测试技术论坛”—第10讲:X射线衍射的残余应力分析
讲座时间 2018-10-17
讲座地点 分析测试共享中心一楼北109教室
讲座人 张晖
讲座内容

讲座名称:“分析测试技术论坛”—第10讲:X射线衍射的残余应力分析
讲座时间:2018年10月17日,14:30
讲座地点:分析测试共享中心一楼北109教室
讲座人:张晖 教授
讲座内容:
残余应力对零件的疲劳、腐蚀、尺寸精度等均有严重的影响,但在材料制备和处理过程中不可避免地会引入残余应力。X射线应力测定是目前最重要和最常用的残余应力研究手段和方法。本次报告主要介绍X射线衍射残余应力分析的基本原理、相关标准、试样准备、仪器调整、参数选择和数据分析。

主办单位:分析测试共享中心
更多资讯
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讲座人介绍

张晖,工学博士,理学院教授。2002-2004及2005-2007年受邀在日本金泽工业大学和日本高知工科大学任访问副教授。长期从事有色金属及材料微观结构分析的研究,已发表学术论文20余篇,申请和授权国家发明专利9项,拥有国际专利2项。主持国家自然基金和航空科学基金等10余项,曾获得国家和省部级科技进步奖3项。

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