“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术 讲座一：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择
讲座名称：
“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术 讲座一：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择
讲座时间：
2018-06-06
讲座人：
李廷
形式：
校区：
兴庆校区
实践学分：
讲座内容：
讲座名称：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择
讲座时间：2018年6月6日（星期三）14:30
讲座地点：分析测试共享中心一楼北109培训教室
讲座人：李廷
讲座内容：
从扫描电子显微镜的构造、原理及观察过程介绍开始，帮助用户深入了解SEM的功能；重点通过具体案例讲解如何针对不同材料的模式和电镜参数选择，获得理想的电镜结果；对常见的图像“异常”原因进行分析并给出主要的解决办法。另外，介绍几种常用的制样工具与设备，并通过案例讲解特殊制样技巧。
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